弘前大学

2016年度第3回弘前大学機器分析センターセミナー開催のお知らせ(10月24日開催)

 弘前大学機器分析センターでは、「オージェ電子分光法の基礎と応用」に関するセミナーを開催します。専門家にわかりやすく解説していただきます。またご希望の方には、実際に装置を使用して測定デモを行います。皆様方の多数のご参加をお待ちしております。

「資料提示による講習会」
1.日時: 2016年10月24日(月)15:00~17:00
2.場所: 弘前大学 理工学部1号館 5階 10番講義室
3.対象: 教職員、学生、一般の方
4.入場: 無料
5.内容:「オージェ電子分光分析法(AES)の基礎と応用」
      日本電子(株)SA事業ユニットSAアプリケーション部 主査 堤 建一 氏

オージェ電子分光分析法(AES)とは、電子線を試料表面に照射し、表面から発生したオージェ電子の運動エネルギーを測定することで、表面構成元素の定性・定量分析を行う手法です。AESは高倍率の面分析や、深さ方向分析や化学状態分析を得意とします。本セミナーでは、AESの原理から最新の応用分析事例までを紹介します。

「装置を使用した測定デモ」
1.日時: 2016年10月25日(火)~10月26日(水)希望者に応じて対応
2.場所: 弘前大学 コラボ弘大 2階 機器分析センター内
3.対象: 教職員、学生、一般の方
4.入場: 無料
5.内容:オージェ電子分光装置「JEOL JAMP-9500F」を用いた、測定・解析方法の講習および各試料を用いた測定デモンストレーション。

【お問い合わせ先】
 弘前大学大学院 理工学研究科 遠田義晴
 電話: 0172-39-3659 E-mail: enta@hirosaki-u.ac.jp
 弘前大学機器分析センター長 岡崎雅明
 電話: 0172-39-3565 E-mail: mokazaki@hirosaki-u.ac.jp

【お申し込み先】
 弘前大学機器分析センター 事務局
 電話:0172-39-3913 E-mail: kiki@hirosaki-u.ac.jp

※「資料提示による講習会」は、事前予約なしでの当日のご参加も可能ですが、準備の都合上、受講を希望する方の氏名、所属、電話番号を明記の上、電子メールによりお申し込みください。
※「装置を使用した測定デモ」は、基本的に事前予約が必要です。上記同様に、お申し込みください。装置についてお知りになりたい内容や、分析してみたい試料などがございましたら、一緒にお知らせください。

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